土壌環境中の有害元素の挙動 放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション

日本土壌肥料学会/編

発売日:2012年11月

  • 土壌環境中の有害元素の挙動 放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション
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ISBN
978-4-8268-0221-5

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商品説明

目次

1 土壌元素の分析ツールとしてのシンクロトロン放射光源X線分光法―特徴・測定方法、将来展望
2 水田土壌の酸化還元過程におけるヒ素と鉄の動態をXAFS法で探る
3 XANESとHPLC‐ICP‐MSを用いた水‐土壌系でのヨウ素の挙動解析
4 XAFS法を駆使した土壌中の有害元素の挙動解明
5 射撃場汚染土壌に含まれる鉛の不溶化とXAFSによる化学状態分析

商品詳細

出版社名
博友社
フォーマット
単行本

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