ＬＳＩの信頼性
二川清／編著 塩野登／著 横川慎二／著 福田保裕／著 三井泰裕／著
発売日：2010年10月
- ページ数
- １８３ｐ
- ISBN
- 978-4-8171-9363-6
- 著者情報
- 二川 清（ニカワ キヨシ）
１９４９年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。工学博士。１９７４年‐２００９年、日本電気（株）他にて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。現在、大阪大学大学院情報科学研究科特任教授、金沢工業大学大学院工学研究科客員教授、芝浦工業大学工学部非常勤講師
塩野 登（シオノ ノボル）
１９４７年生まれ。東北大学大学院工学研究科修士課程修了、工学博士。ＮＴＴ ＬＳＩ研究所を経て、現在、（財）日本電子部品信頼性センター理事、日本大学大学院理工学研究科電子工学専攻非常勤講師
横川 慎二（ヨコガワ シンジ）
１９７０年生まれ。電気通信大学大学院修士課程修了。博士（工学）。現在、ルネサスエレクトロニクス（株）、デバイス・解析技術統括部先端デバイス開発第二部チームマネージャー。日本信頼性学会２００３年高木賞、ＩＥＥＥ Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ Ｓｏｃｉｅｔｙ Ｊａｐａｎ Ｃｈａｐｔｅｒ Ａｗａｒｄｓ ２００７年論文賞、日本信頼性学会第２２回秋季信頼性シンポジウム優秀賞など
福田 保裕（フクダ ヤスヒロ）
１９５３年大阪市生まれ。１９７７年、名古屋工業大学電気工学科卒業、沖電気工業（株）入社、半導体事業部生産技術、メモリ設計、信頼性技術を経て、研究本部プロセス研究部長。２００５年、沖エンジニアリング（株）へ信頼性設計事業部長として転籍。２０１０年サムスン電子ＬＣＤ事業部へ入社。主な静電気破壊研究活動は、１９８３年半導体デバイスの静電気破壊、パッケージ帯電モデル、試験方法の提案
三井 泰裕（ミツイ ヤスヒロ）
１９４４年生まれ。山梨大学大学院工学研究科修士課程修了。工学博士。（株）日立製作所中央研究所、同半導体事業部、（株）日立ハイテクノロジーズにて計測技術研究開発に従事後、現在、半導体デバイス解析コンサルタント。日刊工業新聞十大新製品賞
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商品説明
家電製品、携帯端末、パソコン、自動車など、生活のあらゆるところで、LSIは広く深く使われています。LSIがそれほど広く使われるのは、多様な機能を実現できるということだけではなく、故障しにくい、すなわち、信頼性が高いためです。本書はそのLSIの普及を支える信頼性技術の主要な要素技術や手法に焦点をあてています。本書では、LSIにおける信頼性技術に関して、基礎から実際的な応用までを幅広く扱い、信頼性関連の初心者から経験豊富な技術者・研究者まで、すべてを読者対象としています。
目次
第１章 ＬＳＩ信頼性保証概論
第２章 トランジスタ系の信頼性
第３章 ＬＳＩ配線の信頼性
第４章 静電気破壊現象
第５章 故障解析
第６章 寿命データ解析
商品詳細
- シリーズ名
- 信頼性技術叢書
- 出版社名
- 日科技連出版社
- サイズ
- ２１ｃｍ
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
注意事項
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