放射光分析

太田俊明/著

発売日:2025年11月

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  • 放射光分析
ページ数
206p
ISBN
978-4-320-14005-9
著者情報
太田 俊明(オオタ トシアキ)
1971年 東京大学大学院理学系研究科博士課程修了、理学博士。現在 立命館大学総合科学技術研究機構上席研究員、東京大学名誉教授。専門 放射光科学、XAFS分光

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商品説明

放射光は赤外領域からX線にまで広がる幅広い領域をカバーする強力な光源であり、基礎科学、応用科学のさまざまな分野で利用されている。物質分析に対するニーズもだんだん高度化し、より小さい領域を、より速く、そしてより精密に分析することが要求されるようになった。一方で、放射光科学技術も日々進化しており、これらの要求にも応えるような新しい分析手法も生まれつつある。いまでは放射光利用を抜きにして物質分析は考えられなくなってきたようにも思われる。本書では、世代を超えて進化している放射光がどのような原理で発生し、どのように進化してきたのか、そして放射光を利用した分析手法にはどのようなものがあるのか、またそれらが物質分析にどのように利用されているかを紹介する。
 本書は8つのChapterから構成されている。Chapter1では電磁波の特性と物質の相互作用について、そして強力な電磁波である放射光の進化の歴史を概観する。Chapter2では放射光発生の原理、放射光のユニークな特長について詳述する。Chapter3〜8は放射光を用いた物質分析手法、X線屈折、反射、X線回折、散乱、X線吸収、X線光電子分光、X線非弾性散乱、そして放射光を用いたイメージング技術について紹介する。そしてChapter9では、究極のX線光源ともいえるX線自由電子レーザーの原理と利用研究について述べる。

目次

1 放射光と物質分析
2 放射光の原理と放射光施設
3 放射光X線の屈折と反射
4 放射光X線弾性散乱、回折
5 放射光X線吸収分光
6 放射光光電子分光
7 X線非弾性散乱
8 放射光イメージング
9 X線自由電子レーザー(XFEL)

商品詳細

シリーズ名
分析化学実技シリーズ 応用分析編 10
出版社名
共立出版
サイズ
21cm
対象年齢
一般
フォーマット
単行本

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