超LSI共同研究所とその波及 日本半導体製造装置・材料を世界一にしたプロジェクト
発売日:2025年3月
- ページ数
- 243p
- ISBN
- 978-4-86345-578-8
- 著者情報
- 垂井 康夫(タルイ ヤスオ)
1929年東京小石川生まれ、1951年早稲田大学第一理工学部電気工学科卒業後、工業技術院電気試験所入所。以降、IC(集積回路)の開発に従事、1965年工学博士(東京大学)ショットキーTTL素子、電子ビーム描画装置、LSIテスター等を発明、開発し、半導体産業の発展に寄与した。1976年超LSI技術研究組合共同研究所所長に就任、各メーカーら出向して来た研究員を統率し多大なるリーダーシップを発揮した。その後東京農工大学、早稲田大学において、学生、研究者の指導に当たる。東京農工大学名誉教授、現在カシオ科学振興財団理事
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商品説明
超LSI共同研究所は1975年からの4年間、将来の超LSIを作る基礎的共通的な製造装置の開発を行い、1980年3月に任務を終えて解散した。開発された製造装置は、研究組合の構成会社である、富士通、日立、三菱、日電、東芝の各社に納入された。その後5社が競ってこれらを使用し、半導体素子の生産を行い、その結果、半導体デバイスの日本のシェアが急増して50%を超える事になる。その間、対米対策の不備から、米国の安全保障という壁によって反発され、「日本で使うICの20%を輸入品(当時米国製)とする」、「日本の輸出価額は米国が決める」という日米半導体協定を結ばされ、日本のシェアは下がって行くのである。しかし、半導体製造装置は健在で、世界市場シェアの多くを占めている。
目次
序論―日本の半導体は世界シェア50%を得た後、なぜ下降を辿ったのか
1章 超LSI共同研究所の設立前夜とその成果
2章 電子線源と電子光学系
3章 微細電子線描画・検査技術とその変遷
4章 可変成形ビームベクタースキャン型電子ビーム描画装置
5章 汎用型電子線描画技術とその周辺技術の開発
6章 結晶技術
7章 クリーン技術と露光技術
8章 デバイス基礎技術および試験評価基礎技術
商品詳細
- 出版社名
- 丸善プラネット
- サイズ
- 21cm
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
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