精密計測学 Bilingual edition

高偉/他著

発売日:2024年4月

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ページ数
182p
ISBN
978-4-254-20178-9
著者情報
高 偉(コウ イ)
東北大学大学院工学研究科教授

清水 裕樹(シミズ ユウキ)
北海道大学大学院工学研究院教授

水谷 康弘(ミズタニ ヤスヒロ)
大阪大学大学院工学研究科准教授

道畑 正岐(ミチハタ マサキ)
東京大学大学院工学系研究科准教授

河野 大輔(コウノ ダイスケ)
京都大学大学院工学研究科准教授

吉田 一朗(ヨシダ イチロウ)
法政大学大学院理工学研究科教授

伊東 聡(イトウ サトシ)
富山県立大学工学部准教授

清水 浩貴(シミズ ヒロキ)
九州工業大学大学院工学研究院准教授

¥3,190 税込

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商品説明

目次

1 精密計測の基準
2 長さスケール
3 角度スケール
4 時間スケール
5 幾何形状と表面性状の計測
6 光干渉計
7 マシンビジョン
8 空間位置計測
9 光学顕微鏡
10 走査プローブ顕微鏡
11 誤差要因と不確かさ
12 自律校正法
13 機械学習と精密計測
14 超短パルスレーザと光周波数コム

商品詳細

出版社名
朝倉書店
サイズ
21cm
フォーマット
単行本

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