テストは何のためにあるのか 項目反応理論から入試制度を考える
発売日：2022年9月
- ページ数
- ２３９ｐ
- ISBN
- 978-4-7795-1683-2
- 著者情報
- 光永 悠彦（ミツナガ ハルヒコ）
１９７９年北海道生まれ。人事院人材局試験専門官室、島根大学教育・学生支援機構講師を経て、名古屋大学大学院教育発達科学研究科准教授。東京工業大学大学院社会理工学研究科人間行動システム専攻博士課程修了、博士（学術）。専門は心理統計学、テスト理論、多変量解析
西田 亜希子（ニシダ アキコ）
１９７６年大阪府生まれ。京都精華大学講師を経て、大阪公立大学人権問題研究センター特別研究員、神戸女学院大学・甲南女子大学非常勤講師。大阪大学大学院人間科学研究科博士後期課程単位取得満期退学。専門は教育社会学、特に進路選択意識や高大接続教育、新設大学の制度を対象とする
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商品説明
目次
第１部 共通入試のあるべき姿：これからの入試の仕組み、教育の仕組み（メリトクラシーと日本の入試
共通テストのあり方：その模索の方向性
社会とテストのあるべき関係性：社会はテストで何をしたいのか ほか）
第２部 標準化テストを実現するために：ＩＲＴができること（テストとは何か：測定の道具としてのテスト
標準化テストによる公平なテストを実現する要件：共通尺度化
項目反応理論（ＩＲＴ）による標準化テスト ほか）
第３部 ＩＲＴを用いた標準化テストを入試で活用する（日本における大学入試と共通テストに求められる前提条件
ＩＲＴを複数回共通入試に導入する（１）：テスト制度の構築
ＩＲＴを複数回共通入試に導入する（２）：テストデザイン ほか）
商品詳細
- 出版社名
- ナカニシヤ出版
- サイズ
- ２６ｃｍ
- フォーマット
- 単行本
注意事項
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