物質・材料研究のための透過電子顕微鏡
木本浩司／著 三石和貴／著 三留正則／著 原徹／著 長井拓郎／著
発売日：2020年7月
- ページ数
- ３８９ｐ
- ISBN
- 978-4-06-520386-6
- 著者情報
- 木本 浩司（キモト コウジ）
博士（理学）。１９８９年名古屋大学工学研究科応用物理学専攻修士課程修了。現在、物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点電子顕微鏡グループグループリーダー／副拠点長
三石 和貴（ミツイシ カズタカ）
博士（理学）。１９９６年東京理科大学大学院理学研究科物理学専攻博士課程修了。現在、物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点実働環境計測技術開発グループグループリーダー
三留 正則（ミトメ マサノリ）
博士（理学）。１９９０年東京工業大学大学院総合理工学研究科修士課程修了。現在、物質・材料研究機構技術開発・共用部門ナノテクノロジープラットフォームセンター副センター長
原 徹（ハラ トオル）
博士（工学）。１９９０年筑波大学大学院修士課程理工学研究科理工学専攻修了。現在、物質・材料研究機構技術開発・共用部門構造材料解析ステーションステーション長
長井 拓郎（ナガイ タクロウ）
博士（工学）。２００３年早稲田大学大学院理工学研究科環境資源及材料理工学専攻博士後期課程修了。現在、物質・材料研究機構技術開発・共用部門構造材料解析ステーション高分解能グループ主幹エンジニア
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商品説明
知りたい情報を得るためにＴＥＭをどう利用すればよいかがよくわかる。理論の説明がていねいで実例も豊富。ＴＥＭのバイブルが誕生。
電子回折法，回折コントラスト法，高分解能観察，ＳＴＥＭ，ＥＤＳやＥＥＬＳによる元素分析，ローレンツ電子顕微鏡といった手法はもちろん，装置や試料作製法についても詳細に解説。ＴＥＭを活用するために必携の１冊。
※お届け日が変更になりました
7月29日→8月3日
目次
第1章 概論
1.1 透過電子顕微鏡法の基本要素
1.2 透過電子顕微鏡法でできること
1.3 計測を始める前に確認したいこと
1.4 計測手順
1.5 透過電子顕微鏡の研究開発経緯
付録1.1 用語および略語について
第2章 ハードウエア
2.1 装置の構成と基本事項
2.2 電子銃
2.3 コンデンサーレンズ系
2.4 対物レンズ
2.5 球面収差補正装置
2.6 試料ホルダー
2.7 中間・投影レンズ系など
2.8 検出器
2.9 ソフトウエア・ネットワーク環境
2.10 真空排気系
2.11 装置設置環境および周辺装置
付録2.1 計測・解析時の注意点
付録2.2 電流軸・電圧軸・コマフリー軸 ほか
第3章 電子回折法
3.1 電子の散乱
3.2 結晶からの散乱
3.3 回折図形の取得
3.4 回折図形の解析
3.5 収束した電子線による回折図形
3.6 菊池パターン
付録3.1 ブラベーの空間格子 ほか
第4章 回折コントラスト像
4.1 回折コントラスト像の概要
4.2 回折強度変化のしくみ
4.3 回折波と透過波の強度のふるまい
4.4 分散面
4.5 吸収の効果
4.6 回折コントラスト像の取得
第5章 高分解能透過電子顕微鏡像観察
5.1 位相コントラスト
5.2 高分解能像シミュレーション
付録5.1 キルヒホッフの積分定理とホイヘンス・フレネルの原理
付録5.2 フラウンホーファー回折とフレネル回折 ほか
ほか
商品詳細
- 出版社名
- 講談社
- サイズ
- ２１ｃｍ
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
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