• 信頼性試験技術
  • 信頼性試験技術
ページ数
261p
ISBN
978-4-8171-9686-6
著者情報
益田 昭彦(マスダ アキヒコ)
1940年生まれ。電気通信大学大学院博士課程修了。工学博士。日本電気(株)にて通信装置の生産技術、品質管理、信頼性技術に従事(本社主席技師長)。帝京科学大学教授、同大学大学院主任教授、日本信頼性学会副会長、IEC/TC56信頼性国内専門委員会委員長などを歴任。現在、信頼性七つ道具(R7)実践工房代表、技術コンサルタント。工業標準化経済産業大臣表彰、日本品質管理学会品質技術賞、日本信頼性学会奨励賞、IEEE Reliability Japan Chapter Award(2007年信頼性技術功績賞)

鈴木 和幸(スズキ カズユキ)
1950年生まれ。東京工業大学大学院博士課程修了、工学博士。電気通信大学名誉教授、同大学大学院情報理工学研究科特任教授。Wilcoxon Award(米国品質学会、米国統計学会、1999年)、デミング賞本賞(2014年)

原田 文明(ハラダ フミアキ)
1954年生まれ。東京理科大学卒業。富士ゼロックス(株)で品質保証、試験法開発、信頼性管理などに従事。現在、D‐Techパートナーズ代表、東京理科大学非常勤講師、日科技連信頼性講座「信頼性試験」講師、IEC TC56(ディペンダビリティ)専門委員、同国内委員会WG2(技法)主査

山 悟(ヤマ サトル)
1949年生まれ。国立旭川工業高等専門学校電気工学科卒。現在、日本科学技術連盟信頼性セミナー講師

横川 慎二(ヨコガワ シンジ)
1970年生まれ。電気通信大学大学院博士前期課程修了。現在、電気通信大学i‐パワードエネルギー・システム研究センター、同大学大学院情報理工学研究科、同大学情報理工学域教授、博士(工学)。日経品質管理文献賞(日本品質管理学会編『新版 信頼性ハンドブック』(副編集委員長・分担執筆、2014年))、IEEE Reliability Society Japan Chapter,2013 Best Paper Awardなど

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商品説明

本書は、信頼性・安全性トラブルの未然防止に役立つ、信頼性試験の最新の実践的な技術や理論について、多くの図表を用いてわかりやすく解説するものである。全9章で構成。第1章から第3章では、基本となる信頼性工学の知識や故障解析、信頼性データ解析について解説。また第4章で、信頼性試験の概要と全体像を紹介している。第5章から第7章では、信頼性試験技術特有の知識や技術である、加速試験、信頼性抜取試験、信頼性スクリーニングと信頼性成長試験についてそれぞれ解説。第8章は信頼性試験に関する最新の研究成果を紹介するもので、単行本で取り上げるのは本書が初となる内容である。信頼性試験において新しい問題に直面した場合に、数理的に解決を図るうえで参考となる。また、第9章に著者らの実務経験に基づいて整理した、信頼性試験を進める際の留意事項をまとめている。

目次

第1章 信頼性の基礎
第2章 故障物理モデルと故障解析
第3章 信頼性データ解析の要点
第4章 信頼性試験の概念と進め方
第5章 加速試験
第6章 信頼性抜取試験
第7章 信頼性スクリーニングと信頼度成長試験
第8章 信頼性試験のフロンティア
第9章 信頼性試験運用上の留意点

商品詳細

シリーズ名
信頼性技術叢書
出版社名
日科技連出版社
サイズ
21cm
対象年齢
一般
フォーマット
単行本

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