リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析入門
発売日：2019年11月
- ページ数
- ２４５ｐ
- ISBN
- 978-4-06-513598-3
- 著者情報
- 桜井 健次（サクライ ケンジ）
工学博士。１９８８年東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。現在、国立研究開発法人物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点上席研究員。筑波大学大学院教授を兼務
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商品説明
検量線を用いない（＝リファレンスフリー）での蛍光Ｘ線分析に関する専門書。国内の機器メーカーの協力を得て測定例を多数紹介。
現在世界的に注目を集めている参照試料を用いない（＝リファレンスフリー）での蛍光Ｘ線分析に関する専門書。日本国内の装置メーカーや分析企業の全面的な協力を得て、測定時の注意事項をていねいに解説。応用事例は工業製品だけでなく、食品や医薬品、コーティング膜まで幅広く紹介。(「近刊情報」より)
目次
第１章 リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析の基礎（元素分析がもたらす社会のイノベーション
蛍光Ｘ線分析法は「元素を色分けして識別する」方法である ほか）
第２章 リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析の適用事例（電気・電子製品の環境規制対応分析
バリアメタル薄膜の軽元素分析 ほか）
第３章 リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析の注意事項・事例（高い信頼性を得るための注意事項
コーティングアプリケーションにおける注意事項 ほか）
第４章 いっそう高い信頼性のリファレンスフリー蛍光Ｘ線分析をめざして（信頼性ツールとしての認証標準物質
ラウンドロビンテストの経験 ほか）
付録 リファレンスフリー蛍光Ｘ線分析の情報源（物理定数
認証標準物質 ほか）
商品詳細
- 出版社名
- 講談社
- サイズ
- ２１ｃｍ
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
注意事項
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