走査透過電子顕微鏡の物理

田中信夫/著

発売日:2018年8月

  • 走査透過電子顕微鏡の物理
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ISBN
978-4-320-03540-9
著者情報
田中 信夫(タナカ ノブオ)
1973年3月名古屋大学工学部応用物理学科卒業。1978年3月名古屋大学大学院工学研究科応用物理学専攻修了、工学博士。4月日本学術振興会奨励研究員。1979年7月名古屋大学工学部助手。1983年3月米国アリゾナ州立大学客員研究員。1990年4月名古屋大学大学院工学研究科助教授。1999年4月名古屋大学大学院工学研究科教授。2002年4月名古屋大学理工科学総合研究センター教授。2006年4月名古屋大学エコトピア科学研究所教授。2012年4月名古屋大学エコトピア科学研究所所長。2015年4日本顕微鏡学会会長。現在、名古屋大学名誉教授、(財)JFCC客員主管研究員。専門はナノ科学、電子顕微鏡学、電子解回折学。受賞歴:1991、2003、2018年日本顕微鏡学会論文賞。1995年5月日本顕微鏡学会賞。2005年4月日本金属学会論文賞。2007年3月米国高分子物理論文賞。2014年4月科学技術分野の文部科学大臣表彰科学技術賞(開発部門)

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商品説明

ルネサンス以降,人類が作りだした主要な科学機器のひとつとして,顕微鏡が挙げられるだろう。17世紀のフックやレーウェンフックによる微生物の観察から始まり,光学顕微鏡,電子顕微鏡,走査プローブ顕微鏡,X線顕微鏡などの開発が進んできた。そして,その観察対象はついに100億分の1メートルの単原子にまで到達したのである。
本書で扱う透過電子顕微鏡は1931年にドイツで開発された。我が国でも,1930年代後半から大学や国立研究所を中心に研究が進められ,現在では研究と技術開発で世界をリードする国のひとつとなっている。
本書では,発展著しい透過電子顕微鏡法を大きく牽引している,走査透過電子顕微鏡(Scanning transmission electron microscopy
STEM)を詳解し,代表的な研究成果を簡潔にまとめている。人類が原子を直接観察できるようになるまでの歴史も概観し,X線回折法や光学顕微鏡および走査プローブ顕微鏡法と比較しながら,STEMの本質をやさしく解説した一冊である。

目次

第1章 はじめに
第2章 原子を研究する人類
第3章 顕微鏡像を得る2つの方法
第4章 粒子としての電子と波動としての電子
第5章 STEMの結像原理
第6章 STEMの各種結像モード
第7章 STEMの実際の装置と応用
第8章 電子顕微鏡の分解能はどこまでいくか?
第9章 おわりに
付録

商品詳細

シリーズ名
基本法則から読み解く物理学最前線 20
出版社名
共立出版
フォーマット
単行本

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