暗号と乱数 乱数の統計的検定

藤井光昭/著

発売日:2018年4月

  • 暗号と乱数 乱数の統計的検定
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ISBN
978-4-320-11258-2
著者情報
藤井 光昭(フジイ ミツアキ)
1959年京都大学理学部数学科卒業。東京工業大学名誉教授、理学博士。専門:統計学

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商品説明

近年社会において情報セキュリティが注目されているが,統計学的には論じらることが少なかったテーマである。メッセージを送信する際のセキュリティ対策として乱数を用いる手法において,その乱数性の良さを統計的に測る手段について論じたのが本書である。日本においてもセキュリティ関係の仕事に携わる方々等に関心が持たれている,米国国立機関 NISTが提案した15個の検定方法を中心に解説している。
統計学に興味のある方には新しい応用分野として,また,情報セキュリティ分野に興味をある方やセキュリティ関係の仕事に携わる方には一つの新しい観点として読める書籍となっている。統計学が専門でない方のために,その場の話に合わせる形で統計学上の概念も説明している。

目次

第1章 2進法の世界における確率法則(2進法での演算規則
2進法での確率法則)
第2章 乱数を用いての暗号化送信における統計的問題(送信と統計的表現
仮説検定について ほか)
第3章 暗号化送信に用いる乱数の統計的検定(乱数性と統計的検定法
NISTによる一組みの乱数性の統計的検定方法 ほか)
第4章 二つの0.1数列の和による乱数性の向上(一様性からのずれ
独立性からのずれ)

商品詳細

シリーズ名
統計学One Point 7
出版社名
共立出版
対象年齢
一般
フォーマット
単行本

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