金属界面の基礎と計測
発売日：2016年11月
- ISBN
- 978-4-320-04421-0
- 著者情報
- 魚崎 浩平（ウオサキ コウヘイ）
１９７６年Ｔｈｅ Ｆｉｎｄｅｒｓ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ｓｏｕｔｈ Ａｕｓｔｒａｌｉａ，Ｓｃｈｏｏｌ ｏｆ Ｐｈｙｓｉｃａｌ Ｓｃｉｅｎｃｅｓ博士課程修了。現在、国立研究開発法人物質・材料研究機構フェロー。北海道大学名誉教授、Ｐｈ．Ｄ．。専門、表面物理化学・電気化学
近藤 敏啓（コンドウ トシヒロ）
１９９１年東京工業大学大学院総合理工学研究科電子化学専攻博士課程中退。現在、お茶の水女子大学基幹研究院自然科学系教授、博士（工学）。専門、界面物理化学・電気化学
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商品説明
目次
第１章 序論（金属元素
原子から結晶へ ほか）
第２章 金属界面の基礎（金属界面の電子構造
幾何構造（原子配列） ほか）
第３章 金属界面の計測（金属界面の分析法
得られる情報 ほか）
第４章 金属界面の調整と新規物質相の構築―新たな機能の発現（金属基板の作製
表面の清浄化 ほか）
商品詳細
- シリーズ名
- 化学の要点シリーズ １６
- 出版社名
- 共立出版
- フォーマット
- 単行本
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