蛍光Ｘ線分析の実際「第２版」
発売日：2016年7月
- 版数
- 第２版
- ISBN
- 978-4-254-14103-0
- 著者情報
- 中井 泉（ナカイ イズミ）
１９５３年東京都に生まれる。１９７５年東京教育大学理学部化学科卒業。１９８０年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了（理学博士）。１９８２年筑波大学化学系助手。１９８４年筑波大学化学系講師。１９９４年東京理科大学理学部助教授。１９９８年東京理科大学理学部教授
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商品説明
目次
蛍光Ｘ線分析の基礎
蛍光Ｘ線スペクトル
蛍光Ｘ線分析装置
よりよいスペクトルの測り方、読み方
試料調製法
定量分析
標準物質
全反射蛍光Ｘ線分析法
Ｘ線顕微鏡
ＳＥＭ‐ＥＤＳ
めっき・薄膜の分析
ヘンドヘルド蛍光Ｘ線分析計
放射光利用
新しいアプローチと特殊応用
蛍光Ｘ線分析の実際：応用事例集
分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項
法令と届出
商品詳細
- 出版社名
- 朝倉書店
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
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