製品開発のための統計解析入門 ＪＭＰによる品質管理・品質工学
発売日：2015年1月
- ISBN
- 978-4-7649-0474-3
- 著者情報
- 河村 敏彦（カワムラ トシヒコ）
１９７５年広島県に生まれる。２００４年広島大学大学院工学研究科複雑システム工学専攻博士後期課程修了、博士（工学）。２００６年大学共同利用機関法人情報・システム研究機構統計数理研究所データ科学研究系・助手、リスク解析戦略研究センター、総合研究大学院大学複合科学研究科統計科学専攻（兼）。２０１１年ジョージア工科大学産業システム工学科（Ｇｅｏｒｇｉａ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ ｏｆ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｉｎｄｕｓｔｒｉａｌ ＆ Ｓｙｓｔｅｍｓ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ）客員研究員（２０１２年３月まで）。現在、島根大学医学部附属病院医療情報部・准教授、統計数理研究所サービス科学研究センター・客員准教授（兼）。専攻は統計的品質管理、品質工学
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商品説明
本書は、技術開発・製品開発に必要とされる統計解析の入門書です。解説している主な内容は基礎統計、回帰分析、統計的品質管理、実験計画法および品質工学（ロバストパラメータ設計）です。
目次
１ ばらつき低減のためのアプローチ
２ 望目特性のパラメータ設計
３ 望大特性のパラメータ設計
４ 動特性のパラメータ設計
５ 統計的品質管理
６ 変動要因解析のための回帰分析
商品詳細
- シリーズ名
- ＩＳＭシリーズ：進化する統計数理 ４
- 出版社名
- 近代科学社
- フォーマット
- 単行本
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