Ｘ線結晶構造解析入門　強度測定からＣＩＦ投稿まで

発売日：2014年9月

ISBN: 978-4-7598-1575-7
著者情報: 大場　茂（オオバ　シゲル）
１９５３年山形県生まれ。１９７２年秋田県立秋田高校卒業。１９７６年東北大学理学部化学科卒業。１９８１年東京大学大学院理学系研究科博士課程修了。慶應義塾大学理工学部化学科助手。１９９３年同助教授。２００１年慶應義塾大学文学部教授。理学博士

植草　秀裕（ウエクサ　ヒデヒロ）
１９６４年東京都生まれ。１９８３年慶應義塾高等学校卒業。１９８７年慶應義塾大学理工学部化学科卒業。１９９２年慶應義塾大学大学院理工学研究科博士課程修了。東京工業大学理学部化学科助手。１９９９年東京工業大学大学院理工学研究科助教授。２００９年同准教授。理学博士

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商品説明

現場で役に立つノウハウが満載！　Ｘ線構造解析を手段として利用する研究者のための，待望の指南書が登場．正しい構造データを得るためのコツや，構造データから得られる情報を正しく解釈するために必要な知識を平易にまとめた．

現場で役に立つノウハウが満載！　Ｘ線構造解析を手段として利用する研究者のための，待望の指南書が登場．正しい構造データを得るためのコツや，構造データから得られる情報を正しく解釈するために必要な知識を平易にまとめた．(「近刊情報」より)

１章　Ｘ線回折法の原理
２章　結晶構造の対称性
３章　構造モデルの導出および精密化
４章　単結晶の育成と測定の用意
５章　Ｘ線回折強度の測定
６章　構造解析の実際の流れ
７章　構造解析の落とし穴
８章　ＣＩＦ
９章　トラブルシューティング
１０章　ＳＨＥＬＸの使い方
付録

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