はかる×わかる半導体 入門編

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ページ数
264p
ISBN
978-4-86443-039-5
著者情報
浅田 邦博(アサダ クニヒロ)
東京大学大規模集積システム設計教育研究センターセンター長・教授。1980年3月東京大学工学系研究科電子工学博士課程修了(工博)。1980年4月より東京大学工学部に任官。95年東京大学工学系研究科教授。96年東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(VDEC)の設立に伴い異動、2000年より同センター長。この間、85‐86年英国エディンバラ大学訪問研究員。90‐92年電子情報通信学会英文誌エレクトロニクス初代エディタ。01‐02年IEEE SSCS Japan Chapter Chair。05‐08年IEEE Japan Council Chapter Operation Chair。専門は集積システム・デバイス工学

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商品説明

半導体の構造から試験手法までわかりやすく解説。

目次

序章 半導体の試験について
第1章 半導体の基礎(半導体物性
トランジスタの構造と動作原理 ほか)
第2章 半導体の品質保証(品質保証
信頼性基礎技術 ほか)
第3章 半導体製品の分類(デバイスタイプ
ロジックデバイス ほか)
第4章 半導体の試験項目(半導体試験装置(ATE)によるデバイス試験の概要
ファンクション試験 ほか)

商品詳細

出版社名
日経BPコンサルティング
サイズ
21cm
対象年齢
一般
フォーマット
単行本

注意事項

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