タウア・ニン最新VLSIの基礎「第2版」
- 版数
- 第2版
- ページ数
- 721p
- ISBN
- 978-4-621-08581-3
- 著者情報
- 芝原 健太郎(シバハラ ケンタロウ)
広島大学ナノデバイス・システム研究センター。2011年4月21日逝去
宮本 恭幸(ミヤモト ヤスユキ)
東京工業大学大学院理工学研究科
内田 建(ウチダ ケン)
慶應義塾大学理工学部
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商品説明
初版より、すべての章が加筆改訂された改訂2版の翻訳書。MOSFETのスケール長の理論や高電界輸送モデル、SiGeベースバイポーラデバイスの設計などの新たな題材を加えたのみならず、金属‐シリコンのコンタクト、CMOS回路のノイズマージンおよびRF応用向けの性能指数を含めて基本的なデバイスの物理と回路に関する議論が拡大されている。さらにメモリデバイス、SOIデバイスについて新たに二つの章が追加された。
目次
序章
デバイス物理の基礎
MOSFETデバイス
CMOSデバイス設計
CMOS性能因子
バイポーラデバイス
メモリデバイス
SOIデバイス〔ほか〕
商品詳細
- 出版社名
- 丸善出版
- サイズ
- 21cm
- フォーマット
- 単行本
- 原題
- 原タイトル:Fundamentals of Modern VLSI Devices 原著第2版の抄訳
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