はじめてのデバイス評価技術「第２版」
発売日：2012年9月
- 版数
- 第２版
- ISBN
- 978-4-627-77442-1
- 著者情報
- 二川 清（ニカワ キヨシ）
１９７４年大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社（ＮＥＣ）入社（〜２００９年）。１９９０年デバイス評価技術研究所主管研究員など歴任。２００７年金沢工業大学大学院客員教授（〜現在）。２０１０年大阪大学大学院特任教授（〜２０１２年）
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商品説明
半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説！知りたい情報が詰まってる。
目次
第１章 半導体デバイスの特徴
第２章 デバイス評価技術概要
第３章 信頼性試験
第４章 故障解析
第５章 寿命データ解析
第６章 具体例・応用事例
商品詳細
- 出版社名
- 森北出版
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
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