ＬＳＩ故障解析技術「新版」
発売日：2011年9月
- 版数
- 新版
- ページ数
- １９４ｐ
- ISBN
- 978-4-8171-9414-5
- 著者情報
- 二川 清（ニカワ キヨシ）
１９４９年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。１９７４年‐２００９年、ＮＥＣ、ＮＥＣエレクトロニクスにて半導体の信頼性・故障解析技術の研究開発と実務に従事。その間、日本信頼性学会副会長、理事、評議員など。現在、大阪大学大学院特任教授、金沢工業大学大学院客員教授、芝浦工業大学、東京理科大学非常勤講師。電子情報技術産業協会・半導体技術ロードマップ委員会・故障解析技術ＳＷＧリーダー、日本信頼性学会ＬＳＩ故障解析研究会主査
セブン-イレブン受取り(送料無料)
発送目安
発売日（発売日以降は当日）～2日で発送
宅配（送料¥550税込）
発送目安
発売日（発売日以降は当日）～2日で発送
交通状況・天候の影響や注文が集中した場合等、お届けにお時間をいただく場合がございます。
商品説明
ＬＳＩの故障解析を実施する際や、故障解析技術を研究開発する際に必要な知識・経験は多岐にわたるが、本書の中心は故障解析技術そのものである。本書では、最新の技術を解説するとともに、広く用されている従来からの技術も紹介する。
目次
第１章 ＬＳＩの故障とその特徴（故障解析に関連するＬＳＩのトレンド
ＬＳＩの故障の特徴 ほか）
第２章 ＬＳＩ故障解析技術概論（基本の「き」
故障解析の手順 ほか）
第３章 故障解析事例（ＤＲＡＭのＩＲ‐ＯＢＩＲＣＨなどによる解析事例
ロジックＬＳＩ（システムＬＳＩ）の解析事例 ほか）
第４章 新しい故障解析関連手法の開発動向（光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向
ＯＢＩＲＣＨ関連手法発展の流れと最近の動向 ほか）
商品詳細
- 出版社名
- 日科技連出版社
- サイズ
- ２１ｃｍ
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
注意事項
- 本の帯に関して
- 帯つきでの出荷はお約束しておりません。
商品ページに、帯のみに付与される特典物等の表記がある場合でも、確実に帯つきでの出荷はお約束しておりません。
また、帯は商品の一部ではなく「広告扱い」のため、帯の有無・破損による交換や返品は承っておりません。 - 版・表紙について
- 版・表紙（カバー）のご指定は承っておりません。ご注文いただくタイミングによっては、お届けする商品の版や表紙が商品ページ上のものとは異なる場合がございます。
また、初版にのみにお付けしている特典（初回特典、初回仕様特典）がある商品は、商品ページに特典の表記がされている場合でも、無くなり次第終了となります。
