表面分析
石田英之／著 吉川正信／著 中川善嗣／著 宮田洋明／著 加連明也／著 萬尚樹／著
発売日：2011年8月
- ページ数
- １８２ｐ
- ISBN
- 978-4-320-04391-6
- 著者情報
- 石田 英之（イシダ ヒデユキ）
１９７２年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士課程修了・工学博士。現在、大阪大学特任教授（元（株）東レリサーチセンター代表取締役副社長）。専門は物理化学、分子分光
吉川 正信（ヨシカワ マサノブ）
１９８６年大阪大学大学院工学研究科応用物理学科博士課程修了・工学博士。現在、（株）東レリサーチセンター理事兼リサーチフェロー。専門は応用物理学
中川 善嗣（ナカガワ ヨシツグ）
１９８６年京都大学大学院理学研究科物理学第一専攻修士課程修了。現在、（株）東レリサーチセンター表面解析研究部部長。専門は物性物理学、高分子物理学、表面分析
宮田 洋明（ミヤタ ヒロアキ）
２００２年奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士課程修了。専門は光電子分光法、放射光科学、表面分析
加連 明也（カレン アキヤ）
１９８４年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士前期課程修了。現在、（株）東レリサーチセンター表面科学研究部部長。専門は物理化学、表面分析
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商品説明
赤外・ラマン分光法、光電子分光法、二次イオン質量分析法、飛行時間型質量分析法を取上げたユニークな構成の表面分析の解説書。
目次
１ 表面分析序論（表面分析の目的・背景
表面分析の手法 ほか）
２ 赤外・ラマン分光法（赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴
ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴 ほか）
３ Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ、ＥＳＣＡ）（ＸＰＳの原理と特徴
ＸＰＳ装置 ほか）
４ 二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）（ＳＩＭＳの原理と特徴
ＳＩＭＳの装置 ほか）
５ 番行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳ
Ｓｔａｔｉｃ ＳＩＭＳ）（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの原理と特徴
ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの装置 ほか）
付録 主な元素の化学シフト
商品詳細
- シリーズ名
- 分析化学実技シリーズ 応用分析編 １
- 出版社名
- 共立出版
- サイズ
- ２１ｃｍ
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
注意事項
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