電子線ナノイメージング 高分解能ＴＥＭとＳＴＥＭによる可視化
発売日：2009年4月
- ISBN
- 978-4-7536-5636-3
- 著者情報
- 田中 信夫（タナカ ノブオ）
１９４９年名古屋に生まれる。１９７８年名古屋大学大学院工学研究科博士課程修了。１９７８年日本学術振興会奨励研究員。１９７９年豊田理化学研究所研究員。１９７９年名古屋大学工学部助手。１９８３年米国アリゾナ州立大学理学部研究員。１９９０年名古屋大学工学部応用物理学科助教授。１９９９年同教授。２００２年名古屋大学理工科学総合研究センター教授。２００６年名古屋大学エコトピア科学研究所教授。現在にいたる。工学博士
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商品説明
第１部ナノの世界と透過電子顕微鏡法（ナノの世界を見る
透過電子顕微鏡の構造と結像
透過電子顕微鏡の分解能と像コントラストほか）
第２部原子直視を可能とする走査透過電子顕微鏡法（走査透過電子顕微鏡法とは何か
走査透過電子顕微鏡の結像
走査透過電子顕微鏡法の応用例ほか）
補遺（フーリエ変換入門―イメージングの数学的基礎
凸レンズによる結像作用―凸レンズは位相変調器
電子顕微鏡のレンズ伝達関数―位相コントラストを理解する鍵ほか）
目次
第１部 ナノの世界と透過電子顕微鏡法（ナノの世界を見る
透過電子顕微鏡の構造と結像
透過電子顕微鏡の分解能と像コントラスト ほか）
第２部 原子直視を可能とする走査透過電子顕微鏡法（走査透過電子顕微鏡法とは何か
走査透過電子顕微鏡の結像
走査透過電子顕微鏡法の応用例 ほか）
補遺（フーリエ変換入門―イメージングの数学的基礎
凸レンズによる結像作用―凸レンズは位相変調器
電子顕微鏡のレンズ伝達関数―位相コントラストを理解する鍵 ほか）
商品詳細
- シリーズ名
- 材料学シリーズ
- 出版社名
- 内田老鶴圃
- フォーマット
- 単行本
注意事項
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