光リソグラフィ技術 2-計測と制御-
発売日:2003年6月
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商品説明
今回は、前書の続編としてリソグラフィにおける計測と制御技術を紹介する。先ずリソグラフィの規格を決めるために、デバイス特性とリソグラフィの関係、誤差因子を特定するバジェット化の手法、寸法・合わせずれ計測技術、プロセス制御を始めとするe-manufacturingの現状と課題に関して述べる。
商品詳細
- シリーズ名
- Focus Report 15
- 出版社名
- EDリサーチ社
- フォーマット
- 単行本
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