製品開発のための統計解析学

  • 製品開発のための統計解析学
  • 製品開発のための統計解析学
ISBN
978-4-320-01819-8
著者情報
松岡 由幸(マツオカ ヨシユキ)
所属、慶應義塾大学教授・博士(工学)。専門、デザイン理論・方法論、設計工学、製品開発システム論、人間工学。受賞、ICDES Best Paper Award(デザイン方法論領域)、Liberty Mutual Best Paper Award、日本デザイン学会学会賞、日本機械学会業績賞、日本設計工学会論文賞など

栗原 憲二(クリハラ ケンジ)
所属、日産自動車株式会社R&D人事部R&D人財育成グループ主担。専門、品質工学、実験計画法、多変量解析、人財育成。受賞、品質工学賞発表賞、品質工学会論文賞、American Suppliers Institute Awardなど

奈良 敢也(ナラ カンヤ)
所属、日産自動車株式会社車両品質推進部主担。専門、品質工学、実験計画法、QFD。受賞、品質工学賞発表賞、品質工学会貢献賞、American Suppliers Institute Awardなど

氏家 良樹(ウジイエ ヨシキ)
所属、慶應義塾大学助手・博士(工学)。専門、デザイン工学、形態論、計算工学、CAD・CG・CAE。受賞、ICDES Best Paper Award(CAD/CAM/CAE領域)、日本デザイン学会グッド・プレゼンテーション賞など

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商品説明

基礎統計、多変量解析、実験計画法、品質工学、及び統計解析の誤用防止チェックリストを用いた統計解析の適用における留意点を解説。

目次

第1章 製品開発と統計解析
第2章 基礎統計
第3章 多変量解析
第4章 実験計画法
第5章 品質工学
統計解析の誤用防止チェックリスト

商品詳細

出版社名
共立出版
対象年齢
一般
フォーマット
単行本

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