残留応力のＸ線評価 基礎と応用
発売日：2006年7月
- ISBN
- 978-4-8425-0384-4
- 著者情報
- 田中 啓介（タナカ ケイスケ）
１９４３年兵庫県生まれ。１９６６年京都大学工学部機械第２学科卒業。１９７１年京都大学大学院博士課程単位取得退学、京都大学工学部助手。１９７２年工学博士、京都大学。１９８３年京都大学工学部助教授。１９９１年名古屋大学工学部教授。１９９７年名古屋大学大学院工学研究科教授
鈴木 賢二（スズキ ケンジ）
１９５８年宮城県生まれ。１９８０年新潟大学工学部機械工学科卒業。１９８２年新潟大学大学院修士課程修了、新潟大学教育学部助手。１９８５年新潟大学教育学部講師。１９８９年新潟大学教育学部助教授。１９９３年博士（工学）、名古屋大学。２００４年新潟大学教育人間科学部教授
秋庭 義明（アキニワ ヨシアキ）
１９５９年山形県生まれ。１９８２年新潟大学工学部機械工学科卒業、京都セラミックス株式会社入社。１９８４年京都大学工学研究科修士課程入学。１９８９年京都大学工学研究科博士課程単位取得退学、九州工業大学工学部講師、工学博士、京都大学。１９９０年九州工業大学工学部助教授。１９９２年名古屋大学工学部助教授。１９９７年名古屋大学大学院工学研究科助教授
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商品説明
目次
第１部 残留応力の基礎（応力とひずみ
残留応力の発生・評価・制御
残留応力と強度評価）
第２部 Ｘ線応力測定の基礎（結晶材料
Ｘ線と回折
多結晶のＸ線応力測定
Ｘ線応力測定の実際）
第３部 Ｘ線応力測定法の応用（シンクロトロン放射光による応力測定
中性子回折による応力測定
多相材料・複合材料の応力評価
表面改質・コーティングの応力評価
薄膜の応力評価
接合・溶接材の残留応力評価）
第４部 結晶弾性のマイクロメカニックス（単結晶の弾性変形
単結晶のＸ線応力測定
多結晶・多相材料の回析弾性定数
繊維配向を有する立法晶多結晶薄膜のＸ線応力測定）
付録
商品詳細
- 出版社名
- 養賢堂
- フォーマット
- 単行本
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