固体表面キャラクタリゼーションの実際 ナノ材料に利用するスペクトロスコピー
発売日：2005年2月
- ISBN
- 978-4-06-154325-6
- 著者情報
- 田中 庸裕（タナカ ツネヒロ）
工学博士。１９８７年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。北海道大学理学部助手、京都大学大学院工学研究科助教授を経て、京都大学大学院工学研究科教授（分子工学専攻）
山下 弘巳（ヤマシタ ヒロミ）
工学博士。１９８７年京都大学大学院工学研究科石油化学専攻博士課程修了。東北大学非水溶液化学研究所・反応化学研究所助手、大阪府立大学大学院工学研究科助教授を経て、大阪大学大学院工学研究科教授（マテリアル応用工学専攻）
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商品説明
どの手法で何がわかるかのノウハウを紹介 ナノテクノロジー材料の登場に伴い急速に展開しているスペクトロスコピーによる固体表面の特性評価法を、多様な手法の専門家が具体例をもとにわかりやすく解説
どの手法で何がわかるかのノウハウを紹介ナノテクノロジー材料の登場に伴い急速に展開しているスペクトロスコピーによる固体表面の特性評価法を、多様な手法の専門家が具体例をもとにわかりやすく解説
目次
固体表面・固体材料のキャラクタリゼーション
Ｘ線一般・ＸＲＤ（Ｘ線回折）
ＸＰＳ（Ｘ線光電子分光）
ＸＡＦＳ（Ｘ線吸収微細構造）
ＵＶ／ＶＩＳ（紫外／可視）・ＰＬＳ（光ルミネセンス）
ＩＲ（赤外）・Ｒａｍａｎ（ラマン）分光法
ＥＳＲ（電子スピン共鳴）
ＮＭＲ（核磁気共鳴）
ＴＥＭ（透過電子顕微鏡）・ＳＥＭ（走査電子顕微鏡）
ＳＴＭ（走査トンネル顕微鏡）・ＡＦＭ（原子間力顕微鏡）
昇温スペクトル
ＭＳ（質量分析）・ＳＩＭＳ（二次イオン金属分析）
ＣＶ（サイクリックボルタンメトリー）
「目で学ぶ」ケーススタディー
商品詳細
- 出版社名
- 講談社
- 対象年齢
- 一般
- フォーマット
- 単行本
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