ランク回帰と冗長性分析 理論と応用
発売日:2002年6月
- ISBN
- 978-4-627-09491-8
- 著者情報
- 斎藤 堯幸(サイトウ タカユキ)
1965年東京大学理学部卒業。1978年北海道大学文学部助教授。1992年北海道大学文学部教授。1996年東京工業大学大学院社会理工学研究科教授、現在に至る。工学博士
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商品説明
本書は、確率分布に基づく推定や検定にはあまり関与しないデータ解析の視点から、それらの手法を解説し、理論的関連を総合的に位置づけて、また応用例を紹介する。
目次
第1章 基礎的知識
第2章 多変量回帰分析
第3章 正準相関分析
第4章 合成変量による回帰
第5章 冗長性分析
第6章 縮小ランク回帰
第7章 総合的な関連
第8章 植生の調査データの分析
第9章 高校調査書と共通試験の関連性の分析
第10章 着用感と素材物性の従属関係の分析
第11章 臭気公害の実験データの分析
商品詳細
- 出版社名
- 森北出版
- フォーマット
- 単行本
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