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  • XAFSの基礎と応用

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XAFSの基礎と応用

  • ISBN
    978-4-06-153295-3
  • 発売日
    2017年07月

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商品の説明

  • XAFSの理論・解析法から時間・空間分解測定、その場測定など最先端の測定まで詳細にわかる。データを正しく理解したい方へ。
目次
第1章 序論(物質と電磁波の相互作用
X線吸収分光の歴史)
第2章 XAFSの理論(一回散乱EXAFS
多重散乱理論 ほか)
第3章 XAFSの解析(EXAFSの解析
REXを用いたXAFS解析 ほか)
第4章 XAFS実験(放射光光源
ビームライン光学系 ほか)
第5章 関連手法(軟X線磁気円二色性、線二色性
硬X線磁気円二色性 ほか)

商品詳細情報

フォーマット 単行本
サイズ 21cm
対象年齢 一般
初版の取り扱いについて 初版・重版・刷りの出荷は指定ができません。
また、初版にのみにお付けしている特典(初回特典、初回仕様特典)がある商品は、
商品ページに特典の表記が掲載されている場合でも無くなり次第、終了となりますのでご了承ください。

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XAFSのバイブル、待望の改訂!

本書は2002年刊行『X線吸収分光法─XAFSとその応用』(太田俊明 編・アイピーシー刊)の全面改訂版です。旧版の良い点を受け継ぎ、新しい測定法や解析法を追加しました。

本書では、まず「第1章 序論」でXAFS研究、およびその関連研究分野がどのように発展してきたかを概説しました。
「第2章 XAFSの理論」では、EXAFSの理論について詳述しただけでなく、最近ますますその需要が増してきたXANESの理論を新たに付け加えました。
「第3章 XAFSの解析」では、一般的な解析法の説明に加え、解析法における諸問題をFAQの形で説明し、さらにXAFS解析に便利なソフトについての解説を加えました。また、実験家の立場からXANESの具体的な解釈についても新たに付け加えました。
「第4章 XAFS実験」では、放射光源、ビームライン、測定手法といった基盤技術に加えて、時間分解手法、空間分解手法、さらに、さまざまな分野への応用展開技術が最先端をいく研究者によって解説されています。旧版から最も大きく様変わりした章です。
「第5章 関連手法」では、XAFSに関連するさまざまな手法が紹介されています。XAFSはX線の吸収に起因する現象ですが、その中にはX線の散乱や干渉効果が含まれており、それは形を変えて非弾性散乱やDAFS(diffraction anomalous fine structure)などの現象としても現れます。

XAFSの理論・解析法はもちろん、放射光を利用した測定系や時間・空間分解測定、全反射測定、高圧下での測定、その場測定、界面や生体試料を対象とした測定まで、XAFSのすべてがわかる研究者必携の1冊です。

※以下の付録を講談社サイエンティフィクのホームページ(http://www.kspub.co.jp/book/detail/1532953.html)で公開しています。
付録C 吸収強度見積もりのためのVictoreen係数の表
付録D REX2000:FEFF計算結果でカーブフィッティングする方法
(「近刊情報」より)

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