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  • ナノ材料解析の実際

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ナノ材料解析の実際

  • 米澤徹/編著 朝倉清高/編著 幾原雄一/編著 米澤 徹
    博士(工学)。1994年東京大学大学院工学系研究科工業化学専攻博士課程修了。現在、北海道大学大学院工学研究院教授

    朝倉 清高
    理学博士。1983年東京大学大学院理学系研究科化学専攻修士課程修了。現在、北海道大学触媒科学研究所教授

    幾原 雄一
    工学博士。1988年九州大学大学院総合理工学研究科材料開発工学専攻博士課程修了。現在、東京大学大学院工学系研究科教授

  • ISBN
    978-4-06-154392-8
  • 発売日
    2016年06月

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商品の説明

  • 解析全般を網羅し、実例を交えながら、要点を解説した。「よりよいデータを」と願う研究者・技術者の羅針盤となる必携の指南書!
目次
第1部 X線・中性子線(X線吸収微細構造(XAFS)
顕微XRF・顕微XAFS ほか)
第2部 電子線・プローブ(走査電子顕微鏡(SEM)
集束イオンビーム‐走査型電子顕微鏡(FIB‐SEM) ほか)
第3部 そのほかの分析手法(共焦点レーザースキャン顕微鏡(LSCM)
動的光散乱法による粒子径測定 ほか)
第4部 トピックス(ナノ粒子触媒評価
合金ナノ粒子評価 ほか)

商品詳細情報

フォーマット 単行本
サイズ 21cm
対象年齢 一般
初版の取り扱いについて 初版・重版・刷りの出荷は指定ができません。
また、初版にのみにお付けしている特典(初回特典、初回仕様特典)がある商品は、
商品ページに特典の表記が掲載されている場合でも無くなり次第、終了となりますのでご了承ください。

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複数の手法を組み合わせて、材料解析を行うことで、材料の本当の姿がみえてくる。「ナノ材料」の解析全般を網羅し、実例を交えながら、要点を解説した。「よりよいデータを」と願う研究者・技術者の羅針盤となる必携の指南書!

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