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  • 電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A ナノテクノロジーの推進役

  • 電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A ナノテクノロジーの推進役

電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A ナノテクノロジーの推進役

  • 平坂雅男/共編 朝倉健太郎/共編 平坂 雅男(ヒラサカ マサオ)
    1955年東京都に生まれる。1980年早稲田大学大学院修士課程卒業。現在、帝人株式会社高分子研究センター技術統括グループ・技術担当部長、工学博士。専門は電子顕微鏡および分光学的手法による薄膜材料の構造解析

    朝倉 健太郎(アサクラ ケンタロウ)
    1946年東京都に生まれる。1971年工学院大学電子工学科卒業。現在、東京大学大学院工学系研究科、工学博士、専門は耐熱鋼など鉄鋼材料研究

  • ISBN
    978-4-900508-74-3
  • 発売日
    2002年09月

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商品の説明

  • FIBやイオンミリング技法の情報を渇望する声に応じるために、実際に電子顕微鏡に携わる研究者や技術者から疑問点を抽出し、その疑問に応えるQ(質問)&A(回答)の形式で、技術情報をまとめた。これから電子顕微鏡を始める人、あるいは始めて間もない人に対しても理解しやすいように編集を行った。さらに本書は、FIBやイオンミリング技法を用いる研究者や技術者が現場での参考書として利用するばかりでなく、知っておくべき内容も含めて基礎から応用までを網羅した。
目次
第1章 基礎
第2章 FIB(基礎
前処理
ノウハウ ほか)
第3章 イオンミリング(基礎
前処理
ノウハウ ほか)
第4章 その他
付録

商品詳細情報

フォーマット 単行本
サイズ 26cm

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